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  • XTU-4C涂鍍層厚度分析儀
    XTU-4C涂鍍層厚度分析儀

    涂鍍層厚度分析儀:微聚焦加強(qiáng)型X射線裝置:可測(cè)試各類極微小的樣品,即使檢測(cè)面積為0.002mm2的樣品也可輕松,精準(zhǔn)檢測(cè)。變焦裝置及位置補(bǔ)償算法:可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測(cè),凹槽深度范圍0-30mm.自主研發(fā)的EFP算法:多層元素,各種元素及有機(jī)物,甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量。

    更新時(shí)間:2025-03-05型號(hào):XTU-4C訪問量:77
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