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當前位置:首頁  >  產(chǎn)品展示  >  物理特性分析儀器  >  膜厚儀  >  XTU-4C涂鍍層厚度分析儀

涂鍍層厚度分析儀

簡要描述:涂鍍層厚度分析儀:微聚焦加強型X射線裝置:可測試各類極微小的樣品,即使檢測面積為0.002mm2的樣品也可輕松,精準檢測。變焦裝置及位置補償算法:可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍0-30mm.自主研發(fā)的EFP算法:多層元素,各種元素及有機物,甚至有同種元素在不同層也可精準測量。

  • 產(chǎn)品型號:XTU-4C
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2025-03-05
  • 訪  問  量:79

詳細介紹

品牌福佰特價格區(qū)間5萬-10萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,交通,汽車,綜合

       

       涂鍍層厚度測試儀:全面升級下照式探測器,多模態(tài)人機交互,搭載先進的EFP算法軟件同時升級成新一代微納米芯片元器件,在檢測多層合金,上下元素重復(fù)鍍層及滲層時更加精準,穩(wěn)定。

       微聚焦加強型X射線裝置:可測試各類極微小的樣品,即使檢測面積為0.002mm2的樣品也可輕松,精準檢測。

       變焦裝置及位置補償算法:可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍0-30mm.

       自主研發(fā)的EFP算法:多層元素,各種元素及有機物,甚至有同種元素在不同層也可精準測量。

       微米級移動精度:高精密XY移動滑軌,實現(xiàn)多點位,多樣品的精準位移和同時檢測,移動精度可達微米級,輕松應(yīng)對極微小樣品檢測。

        匠心打造的新一代設(shè)計,是一款具科技感的一機多用型光譜儀,采用先進的EFP算法和微光聚集技術(shù)的同時搭配新一代的多道及時序排列,專精型既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能,又可滿足微區(qū)ROHS檢測及全元素分析,每一個功能都是專業(yè)的。

       微聚焦X射線發(fā)生器和先進的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng),最小測量面積大0.03m2,可變焦裝置及位置補償算法:可對各種異形凹槽件進行無損檢測。凹槽深度范圍0-30mm。自主研發(fā)的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層。多層多元素,甚至有同種元素在不同層可以精確測量。

       一機多用,精檢精測:各裝置高度集成,不分散,不弱化光強,能夠兼顧ROHS,全元素分析,各種大小異形涂鍍層樣品的快速精準檢測。

      有任何問題都可以隨時聯(lián)系,24小時在線。

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