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X射線熒光光譜儀教程

更新時(shí)間:2025-02-10      點(diǎn)擊次數(shù):218

        化學(xué)成分分析的方法主要有化學(xué)分析,物理分析。其中物理分析越來越受到研究者的關(guān)注,其具有幾個(gè)特點(diǎn):

         1.不破壞樣品成分,

         2.絕大部分的物理分析的區(qū)域很小

         3.儀表面分析方法為主

         4.分析速度快,靈敏度高。常見的物理分析方法包括X射線熒光光譜(XRF)等離子發(fā)射光譜(ICP)原子吸收光譜(AAS)原子熒光光譜法(AFS)和電子探針分析(EPMA)

        XRF分析測試技術(shù)已經(jīng)在地質(zhì),冶金,電子機(jī)械,石油,航空航天材料,生物,生態(tài)環(huán)境等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。

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